test ds1-loop

Dernière mise à jour : Mar 19, 2025 |
Selon le paramètre de commande, un essai de boucle/d'étendue de longue durée ou une série d'essais de boucle de courte durée seront exécutés.
Les tests en boucle de longue durée sont exécutés pendant une période prolongée jusqu'à ce que le technicien du système y mette fin. Les tests en boucle de courte durée renvoient le résultat du test à l'écran lorsque l'exécution est terminée. Utilisez list measurements ds1 summary pour surveiller l'état d'un test de bouclage/d'étendue de longue durée.
Si le paramètre [inject-single-bit-error] est utilisé, mais qu'aucune prise de bouclage CPE, CSU distante ou essai unidirectionnel n'est actif sur le module média DS1, le message d'erreur suivant s'affiche :
Paramètre valide si un test de boucle/d'étendue est actif sur le DS1.
Informations sur le prologue
Métadonnées
Mots-clés :

Syntaxe

boucle d'essai DS1  emplacement  [ cpe-boucle-prise-test-début  [ nombre de bits ] |  mise à l'essai en boucle CSU - début  |  début-test-unidirectionnel  |  boucle de terminaison/essai de portée  |  injecter-une-erreur-de-bit-simple  |  essais de boucle ds1/csu ]
location
Représente la position physique de la carte à tester. Il est représenté par la passerelle multimédia, position de l'emplacement.
cpe-loopback-jack-test-begin nombre de bits bit-pattern
Pour les cartes DS1, cela entraîne la configuration d'un essai en boucle de longue durée par la prise de boucle CPE (équipement sur site du client). La commande vous permet de spécifier un code de recherche pour la prise de boucle CPE si celui-ci diffère de la valeur par défaut de 0x47F. Indiquez le nombre de bits dans le code de boucle ainsi que le motif de bits réel (en hexadécimal).
Le test est abandonné si la commande busyout n'est pas définie.
far-csu-loopback-test-begin
Dans le cas des cartes DS1, un essai en boucle de longue durée est alors configuré par l’unité de service de canal (USC) distante.
one-way-span-test-begin
Pour les cartes DS1, cela commence l'exécution d'un test unidirectionnel de longue durée.
end-loopback/span-test
Pour les cartes DS1, ce paramètre met fin aux tests unidirectionnels de longue durée et en boucle.
inject-single-bit-error
Pour les cartes DS1, ce paramètre provoque l’envoi d’une erreur de bit unique dans un modèle d’essai 3-en-24 à trames actives utilisé dans les essais de bouclage et d’étendue de longue durée.
ds1/csu-loopback-tests
Pour les cartes DS1, ce paramètre exécute les essais en boucle suivants : retour en boucle de la carte DS1, retour en boucle de l'équipement du module CSU et retour en boucle du répéteur du module CSU. Ces essais sont effectués de façon séquentielle pendant une courte durée chacun, et les résultats individuels des essais RÉUSSITE/ÉCHEC/ABANDON sont indiqués après chaque essai.

Interactions de fonctionnalités pour la boucle de test ds1

Les essais en boucle ou de dérivation sont activés sur les cartes DS1 qui sont occupées.
L'un des essais de prise en boucle CPE, de CSU à l'extrémité distante, de plage unidirectionnelle ou de boucle DS1/CSU peut être actif à tout moment sur une plage DS1.

Example

boucle d'essai DS1  1v2